Journal: | Tecnociencia (Panamá) |
Database: | PERIÓDICA |
System number: | 000209432 |
ISSN: | 1609-8102 |
Authors: | Fernández García, Bernardo1 Pérez Castro, Omayra |
Institutions: | 1Universidad de Panamá, Facultad de Ciencias Naturales, Exactas y Tecnología, Ciudad de Panamá. Panamá |
Year: | 2002 |
Season: | Oct |
Volumen: | 4 |
Number: | 2 |
Pages: | 13-28 |
Country: | Panamá |
Language: | Español |
Document type: | Artículo |
Approach: | Analítico |
Disciplines: | Física y astronomía, Matemáticas |
Keyword: | Física, Matemáticas aplicadas, Fractales, Medición, Exponente crítico, Simetría, Cambio de escala |
Keyword: | Physics and astronomy, Mathematics, Physics, Applied mathematics, Fractals, Measurement, Critical exponent, Symmetry, Scale changes |
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