Revista: | Tecnociencia (Panamá) |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000209432 |
ISSN: | 1609-8102 |
Autores: | Fernández García, Bernardo1 Pérez Castro, Omayra |
Instituciones: | 1Universidad de Panamá, Facultad de Ciencias Naturales, Exactas y Tecnología, Ciudad de Panamá. Panamá |
Año: | 2002 |
Periodo: | Oct |
Volumen: | 4 |
Número: | 2 |
Paginación: | 13-28 |
País: | Panamá |
Idioma: | Español |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Analítico |
Disciplinas: | Física y astronomía, Matemáticas |
Palabras clave: | Física, Matemáticas aplicadas, Fractales, Medición, Exponente crítico, Simetría, Cambio de escala |
Keyword: | Physics and astronomy, Mathematics, Physics, Applied mathematics, Fractals, Measurement, Critical exponent, Symmetry, Scale changes |
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