| Journal: | Nova scientia |
| Database: | PERIÓDICA |
| System number: | 000390465 |
| ISSN: | 2007-0705 |
| Authors: | López Rodríguez, Francisco J1 Gaggero Sager, Luis M1 |
| Institutions: | 1Universidad Autónoma del Estado de Morelos, Facultad de Ciencias, Cuernavaca, Morelos. México |
| Year: | 2013 |
| Season: | Oct |
| Volumen: | 5 |
| Number: | 10 |
| Pages: | 17-26 |
| Country: | México |
| Language: | Español |
| Document type: | Artículo |
| Approach: | Aplicado, descriptivo |
| Spanish abstract | Establecemos las bases para el estudio del efecto de una línea extendida de impurezas sobre una placa de grafeno. Mediante el uso de análisis dimensional y la propuesta de una ecuación de Poisson bidimensional, obtenemos las formas funcionales del potencial y la densidad electrónica de este problema |
| English abstract | We establish the basis for the study of the effect of a extended line of impurities on a sheet of graphene. By using dimensional analysis and proposing a two dimensional Poisson equation, we obtain the functional form of the potential and electronic density of the problem |
| Disciplines: | Ingeniería |
| Keyword: | Ingeniería de materiales, Grafeno, Análisis dimensional, Densidad electrónica, Dopaje |
| Keyword: | Engineering, Materials engineering, Graphene, Doping, Dimensional analysis, Electronic density |
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