| Revista: | Nova scientia |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000390465 |
| ISSN: | 2007-0705 |
| Autores: | López Rodríguez, Francisco J1 Gaggero Sager, Luis M1 |
| Instituciones: | 1Universidad Autónoma del Estado de Morelos, Facultad de Ciencias, Cuernavaca, Morelos. México |
| Año: | 2013 |
| Periodo: | Oct |
| Volumen: | 5 |
| Número: | 10 |
| Paginación: | 17-26 |
| País: | México |
| Idioma: | Español |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Aplicado, descriptivo |
| Resumen en español | Establecemos las bases para el estudio del efecto de una línea extendida de impurezas sobre una placa de grafeno. Mediante el uso de análisis dimensional y la propuesta de una ecuación de Poisson bidimensional, obtenemos las formas funcionales del potencial y la densidad electrónica de este problema |
| Resumen en inglés | We establish the basis for the study of the effect of a extended line of impurities on a sheet of graphene. By using dimensional analysis and proposing a two dimensional Poisson equation, we obtain the functional form of the potential and electronic density of the problem |
| Disciplinas: | Ingeniería |
| Palabras clave: | Ingeniería de materiales, Grafeno, Análisis dimensional, Densidad electrónica, Dopaje |
| Keyword: | Engineering, Materials engineering, Graphene, Doping, Dimensional analysis, Electronic density |
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