Pruebas de manufactura y funcionalidad del circuito mole
Document title: Pruebas de manufactura y funcionalidad del circuito mole
Journal: Memoria Electro - Reunión Académica de Ingeniería Electrónica
Database: PERIÓDICA
System number: 000110360
ISSN: 0185-4607
Authors: 1
Institutions: 1Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, Guadalajara, Jalisco. México
Year:
Season: Oct
Number: 12
Pages: 583-598
Country: México
Document type: Artículo
Approach: Teórico, experimental
Disciplines: Ingeniería
Keyword: Ingeniería electrónica,
Circuitos integrados,
Procesador digital-señales,
Semiconductores,
Sistemas de prueba,
Diseño
Keyword: Engineering,
Electronic engineering,
Integrated circuits,
Digital signal processor,
Semiconductors,
Test system,
Design
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