Revista: | Memoria Electro - Reunión Académica de Ingeniería Electrónica |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000110360 |
ISSN: | 0185-4607 |
Autores: | Palomino, J1 Figueroa, S Anides, S |
Instituciones: | 1Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, Guadalajara, Jalisco. México |
Año: | 1990 |
Periodo: | Oct |
Número: | 12 |
Paginación: | 583-598 |
País: | México |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Teórico, experimental |
Disciplinas: | Ingeniería |
Palabras clave: | Ingeniería electrónica, Circuitos integrados, Procesador digital-señales, Semiconductores, Sistemas de prueba, Diseño |
Keyword: | Engineering, Electronic engineering, Integrated circuits, Digital signal processor, Semiconductors, Test system, Design |
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