Journal: | Instrumentation & development |
Database: | PERIÓDICA |
System number: | 000021146 |
ISSN: | 0187-8549 |
Authors: | Vicens, J1 Iglesias, E Escolona, R |
Institutions: | 1Universidad Simón Bolívar, División de Ciencias Físicas y Matemáticas, Caracas, Distrito Federal. Venezuela |
Year: | 1994 |
Volumen: | 3 |
Number: | 4 |
Pages: | 53-58 |
Country: | México |
Language: | Inglés |
Document type: | Artículo |
Approach: | Analítico |
Disciplines: | Física y astronomía, Ingeniería |
Keyword: | Optica, Ingeniería de instrumentos, Perfilometria, Corrimiento de fase, Metrología, Microscopio interferencial |
Keyword: | Physics and astronomy, Engineering, Optics, Instrumentation engineering, Profilometry, Phase shifting, Optic metrology, Interferential microscope |
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