Mediciones de espesores delgados por el metodo de linnik
Document title: Mediciones de espesores delgados por el metodo de linnik
Journal: Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones
Database: PERIÓDICA
System number: 000031738
ISSN: 0258-5944
Authors: 1
Institutions: 1Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría", Facultad de Electrónica, Cibernética y Comunicaciones, La Habana. Cuba
Year:
Season: Nov
Volumen: 2
Number: 3
Pages: 252-260
Country: Cuba
Document type: Artículo
Approach: Analítico, experimental
Disciplines: Física y astronomía,
Ingeniería
Keyword: Física de materia condensada,
Optica,
Ingeniería de instrumentos,
Capa delgada,
Espesor-medicion,
Interferometría,
Método de Linnik
Keyword: Physics and astronomy,
Engineering,
Condensed matter physics,
Optics,
Instrumentation engineering,
Interferometry,
Linnik method,
Thickness measurement,
Thin layer
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