Mediciones de espesores delgados por el metodo de linnik
Título del documento: Mediciones de espesores delgados por el metodo de linnik
Revista: Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000031738
ISSN: 0258-5944
Autors: 1
Institucions: 1Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría", Facultad de Electrónica, Cibernética y Comunicaciones, La Habana. Cuba
Any:
Període: Nov
Volum: 2
Número: 3
Paginació: 252-260
País: Cuba
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico, experimental
Disciplines Física y astronomía,
Ingeniería
Paraules clau: Física de materia condensada,
Optica,
Ingeniería de instrumentos,
Capa delgada,
Espesor-medicion,
Interferometría,
Método de Linnik
Keyword: Physics and astronomy,
Engineering,
Condensed matter physics,
Optics,
Instrumentation engineering,
Interferometry,
Linnik method,
Thickness measurement,
Thin layer
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