Tecnica DLTS para la caracterización de niveles profundos en semiconductores
Document title: Tecnica DLTS para la caracterización de niveles profundos en semiconductores
Journal: Gyros
Database: PERIÓDICA
System number: 000139167
ISSN: 1405-2296
Authors: 1
Institutions: 1Universidad Autónoma Metropolitana, Departamento de Ciencias Básicas, Azcapotzalco, Distrito Federal. México
Year:
Volumen: 3
Number: 4
Pages: 62-70
Country: México
Language: Español
Document type: Artículo
Approach: Divulgación, descriptivo
Disciplines: Física y astronomía
Keyword: Física,
Física de materia condensada,
Técnica DLTS,
Espectroscopía,
Semiconductores,
Niveles profundos,
Electrónica cuántica
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
Physics,
Deep levels,
Spectroscopy,
Semiconductors,
Dlts technique,
Quantum electronics
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