Tecnica DLTS para la caracterización de niveles profundos en semiconductores
Título del documento: Tecnica DLTS para la caracterización de niveles profundos en semiconductores
Revista: Gyros
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000139167
ISSN: 1405-2296
Autores: 1
Instituciones: 1Universidad Autónoma Metropolitana, Departamento de Ciencias Básicas, Azcapotzalco, Distrito Federal. México
Año:
Volumen: 3
Número: 4
Paginación: 62-70
País: México
Idioma: Español
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Divulgación, descriptivo
Disciplinas: Física y astronomía
Palabras clave: Física,
Física de materia condensada,
Técnica DLTS,
Espectroscopía,
Semiconductores,
Niveles profundos,
Electrónica cuántica
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
Physics,
Deep levels,
Spectroscopy,
Semiconductors,
Dlts technique,
Quantum electronics
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