X - ray photoelectron spectroscopy ( xps ) sensitivity factors . A general and simple approach
Título del documento: X - ray photoelectron spectroscopy ( xps ) sensitivity factors . A general and simple approach
Revista: Revista técnica INTEVEP
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000003183
ISSN: 0251-4478
Autores: 1
Instituciones: 1Instituto Tecnológico Venezolano del Petróleo, Dep Desarrollo Procesos, Caracas, Distrito Federal. Venezuela
Año:
Periodo: Ene-Jun
Volumen: 9
Número: 1
Paginación: 81-88
País: Venezuela
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Teórico, experimental
Disciplinas: Química,
Física y astronomía
Palabras clave: Química analítica,
Electromagnetismo,
Pruebas,
Rayos X,
Aluminio,
Magnesio,
Espectroscopía,
Fotoelectrones
Keyword: Chemistry,
Physics and astronomy,
Analytical chemistry,
Electromagnetism,
Tests,
X-rays,
Aluminum,
Magnesium,
Spectroscopy,
Photoelectrons
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