Surface and structural characterization of Si1-xGex/Si alloys and multi-quantum wells grown by gas source molecular beam epitaxy
Título del documento: Surface and structural characterization of Si1-xGex/Si alloys and multi-quantum wells grown by gas source molecular beam epitaxy
Revue: Revista mexicana de física
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000169770
ISSN: 0035-001X
Autores: 1
Instituciones: 1Centro de Investigaciones en Optica A.C, Unidad Aguascalientes, Aguascalientes. México
2Centro de Investigaciones en Optica A.C, León, Guanajuato. México
3Zhongnan University for Nationalities, Computer Science Department, Wuhan, Hubei. China
4Instituto Tecnológico de Aguascalientes, Departamento de Eléctrica-Electrónica, Aguascalientes. México
Año:
Periodo: Oct
Volumen: 46
Número: 5
Paginación: 415-418
País: México
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplinas: Física y astronomía
Palabras clave: Física,
Física de materia condensada,
Aleaciones,
Pozos cuánticos,
Microrrugosidad,
Dispersión,
Polarización,
Caracterización estructural
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
Physics,
Alloys,
Quantum wells,
Microroughness,
Scattering,
Polarization,
Structural characterization
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