La densidad de estados y el coeficiente de absorcion en peliculas de silicio amorfo hidrogenado intrinseco
Título del documento: La densidad de estados y el coeficiente de absorcion en peliculas de silicio amorfo hidrogenado intrinseco
Revue: Revista mexicana de física
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000024437
ISSN: 0035-001X
Autores: 1
Instituciones: 1Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, México, Distrito Federal. México
Año:
Periodo: Oct
Volumen: 42
Número: 5
Paginación: 757-775
País: México
Idioma: Español
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplinas: Física y astronomía,
Ingeniería
Palabras clave: Física de materia condensada,
Optica,
Ingeniería eléctrica,
Películas,
Silicio amorfo,
Densidad de estados,
Coeficiente de absorción
Keyword: Physics and astronomy,
Engineering,
Condensed matter physics,
Optics,
Electrical engineering,
Films,
State density,
Amorphous silicon,
Absorption coefficient
Solicitud del documento
Nota: El envío del documento tiene costo.









Los documentos originales pueden ser consultados en el Departamento de Información y Servicios Documentales, ubicado en el Anexo de la Dirección General de Bibliotecas (DGB), circuito de la Investigación Científica a un costado del Auditorio Nabor Carrillo, zona de Institutos entre Física y Astronomía. Ciudad Universitaria UNAM. Ver mapa
Mayores informes: Departamento de Información y Servicios Documentales, Tels. (5255) 5622-3960, 5622-3964, e-mail: sinfo@dgb.unam.mx, Horario: Lunes a viernes (8 a 16 hrs.)