La densidad de estados y el coeficiente de absorcion en peliculas de silicio amorfo hidrogenado intrinseco
Document title: La densidad de estados y el coeficiente de absorcion en peliculas de silicio amorfo hidrogenado intrinseco
Journal: Revista mexicana de física
Database: PERIÓDICA
System number: 000024437
ISSN: 0035-001X
Authors: 1
Institutions: 1Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, México, Distrito Federal. México
Year:
Season: Oct
Volumen: 42
Number: 5
Pages: 757-775
Country: México
Language: Español
Document type: Artículo
Approach: Analítico
Disciplines: Física y astronomía,
Ingeniería
Keyword: Física de materia condensada,
Optica,
Ingeniería eléctrica,
Películas,
Silicio amorfo,
Densidad de estados,
Coeficiente de absorción
Keyword: Physics and astronomy,
Engineering,
Condensed matter physics,
Optics,
Electrical engineering,
Films,
State density,
Amorphous silicon,
Absorption coefficient
Document request
Note: The document is shipping cost.









Original documents can be consulted at the Departamento de Información y Servicios Documentales, located in the Annex to the General Directorate of Libraries (DGB), circuito de la Investigación Científica across from the Auditorium Nabor Carrillo, located between the Institutes of Physics and Astronomy. Ciudad Universitaria UNAM. Show map
For more information: Departamento de Información y Servicios Documentales, Tels. (5255) 5622-3960, 5622-3964. E-mail: sinfo@dgb.unam.mx . Monday to Friday from (8 to 16 hrs).