| Revue: | Revista mexicana de física |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000337022 |
| ISSN: | 0035-001X |
| Autores: | Becerril, M1 Zelaya Angel, O1 Fragoso Soriano, R1 Tirado Mejía, L2 |
| Instituciones: | 1Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, México, Distrito Federal. México 2Universidad del Quindío, Laboratorio de Optoelectrónica, Armenia, Quindío. Colombia |
| Año: | 2004 |
| Periodo: | Jun |
| Volumen: | 50 |
| Paginación: | 29-32 |
| País: | México |
| Idioma: | Español |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Analítico, descriptivo |
| Resumen en español | Películas semiconductoras policristalinas de Cd1¡xZnxTe fueron crecidas por la técnica de erosión catódica de radio frecuencia sobre substratos de vidrio Corning 7059 a temperatura ambiente a partir de un blanco de CdTe-Zn. Pequeñas laminillas de Zn fueron colocadas sobre la superficie del blanco de CdTe cubriendo pequeñas áreas. El intervalo de composición del Cd1¡xZnxTe fue de x = 0.0 - 0.3. Se reportan mediciones ópticas de espectroscopia de fotorreflectancia de estas películas. De los espectros de fotorreflectancia se aprecia un corrimiento de la brecha de energía (E0) de tipo lineal hacia mayores energías conforme va cambiando la concentración de x |
| Resumen en inglés | Cd1¡xZnxTe polycrystalline thin films with Zn concentration at x = 0.0 - 0.3 were grown on Corning glass 7059 substrates using the radio frequency sputtering technique from a CdTe-Zn target. Small thin plates of elemental Zn covering small areas were glued onto the CdTe target. We report optical measurements in these films using photoreflectance (PR) spectroscopy. From the PR spectra the band gap variation with the Zn films content was obtained |
| Disciplinas: | Física y astronomía |
| Palabras clave: | Física de materia condensada, Optica, Semiconductores, Películas delgadas |
| Keyword: | Physics and astronomy, Condensed matter physics, Optics, Semiconductors, Thin films |
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