Crecimiento y determinación de la brecha de energía en películas delgadas de Cd1¡xZnxTe



Document title: Crecimiento y determinación de la brecha de energía en películas delgadas de Cd1¡xZnxTe
Journal: Revista mexicana de física
Database: PERIÓDICA
System number: 000337022
ISSN: 0035-001X
Authors: 1
1
1
2
Institutions: 1Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, México, Distrito Federal. México
2Universidad del Quindío, Laboratorio de Optoelectrónica, Armenia, Quindío. Colombia
Year:
Season: Jun
Volumen: 50
Pages: 29-32
Country: México
Language: Español
Document type: Artículo
Approach: Analítico, descriptivo
Spanish abstract Películas semiconductoras policristalinas de Cd1¡xZnxTe fueron crecidas por la técnica de erosión catódica de radio frecuencia sobre substratos de vidrio Corning 7059 a temperatura ambiente a partir de un blanco de CdTe-Zn. Pequeñas laminillas de Zn fueron colocadas sobre la superficie del blanco de CdTe cubriendo pequeñas áreas. El intervalo de composición del Cd1¡xZnxTe fue de x = 0.0 - 0.3. Se reportan mediciones ópticas de espectroscopia de fotorreflectancia de estas películas. De los espectros de fotorreflectancia se aprecia un corrimiento de la brecha de energía (E0) de tipo lineal hacia mayores energías conforme va cambiando la concentración de x
English abstract Cd1¡xZnxTe polycrystalline thin films with Zn concentration at x = 0.0 - 0.3 were grown on Corning glass 7059 substrates using the radio frequency sputtering technique from a CdTe-Zn target. Small thin plates of elemental Zn covering small areas were glued onto the CdTe target. We report optical measurements in these films using photoreflectance (PR) spectroscopy. From the PR spectra the band gap variation with the Zn films content was obtained
Disciplines: Física y astronomía
Keyword: Física de materia condensada,
Optica,
Semiconductores,
Películas delgadas
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
Optics,
Semiconductors,
Thin films
Full text: Texto completo (Ver PDF)