Revista: | Memoria Electro - Reunión Académica de Ingeniería Electrónica |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000115593 |
ISSN: | 0185-4607 |
Autores: | Aceves, M1 Murphy, R Fuentes, I Zaldivar, I |
Instituciones: | 1Instituto Nacional de Astrofísica, Optica y Electrónica, Tonantzintla, Puebla. México |
Año: | 1991 |
Periodo: | Oct |
Número: | 13 |
Paginación: | 879-893 |
País: | México |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Teórico |
Disciplinas: | Ingeniería |
Palabras clave: | Ingeniería de control, Ingeniería electrónica, Ingeniería industrial, Control de procesos, Estadística, Método Taguchi, Aluminio, Películas delgadas, Microelectrónica, Optimación |
Keyword: | Engineering, Control engineering, Electronic engineering, Industrial engineering, Process control, Statistics, Taguchi technique, Aluminum, Thin films, Microelectronics, Optimization |
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