Metodos estadisticos para la optimizacion de procesos : un ejemplo
Título del documento: Metodos estadisticos para la optimizacion de procesos : un ejemplo
Revista: Memoria Electro - Reunión Académica de Ingeniería Electrónica
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000115593
ISSN: 0185-4607
Autores: 1
Instituciones: 1Instituto Nacional de Astrofísica, Optica y Electrónica, Tonantzintla, Puebla. México
Año:
Periodo: Oct
Número: 13
Paginación: 879-893
País: México
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Teórico
Disciplinas: Ingeniería
Palabras clave: Ingeniería de control,
Ingeniería electrónica,
Ingeniería industrial,
Control de procesos,
Estadística,
Método Taguchi,
Aluminio,
Películas delgadas,
Microelectrónica,
Optimación
Keyword: Engineering,
Control engineering,
Electronic engineering,
Industrial engineering,
Process control,
Statistics,
Taguchi technique,
Aluminum,
Thin films,
Microelectronics,
Optimization
Solicitud del documento
Nota: El envío del documento tiene costo.









Los documentos originales pueden ser consultados en el Departamento de Información y Servicios Documentales, ubicado en el Anexo de la Dirección General de Bibliotecas (DGB), circuito de la Investigación Científica a un costado del Auditorio Nabor Carrillo, zona de Institutos entre Física y Astronomía. Ciudad Universitaria UNAM. Ver mapa
Mayores informes: Departamento de Información y Servicios Documentales, Tels. (5255) 5622-3960, 5622-3964, e-mail: sinfo@dgb.unam.mx, Horario: Lunes a viernes (8 a 16 hrs.)