Revue: | Ingeniería e investigación |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000442266 |
ISSN: | 0120-5609 |
Autores: | Velasco, L1 Olaya, J.J1 Rodríguez Baracaldo, R1 |
Instituciones: | 1Universidad Nacional de Colombia, Bogotá. Colombia |
Año: | 2012 |
Periodo: | Dic |
Volumen: | 32 |
Número: | 3 |
Paginación: | 10-13 |
País: | Colombia |
Idioma: | Inglés |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Experimental |
Disciplinas: | Química |
Palabras clave: | Corrosión, Microestructuras, Película Nbx-Siy-Nz, Películas delgadas |
Keyword: | Corrosion, Nb-Si-N films, Microstructures, Thin films |
Solicitud del documento | |