Revue: | Dyna (Medellín) |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000394986 |
ISSN: | 0012-7353 |
Autores: | Piña Monarrez, Manuel R1 Ramos López, Miriam L1 Alvarado Iniesta, Alejandro1 Molina Arredondo, Rey D1 |
Instituciones: | 1Universidad Autónoma de Ciudad Juárez, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Ciudad Juárez, Chihuahua. México |
Año: | 2016 |
Periodo: | Jun |
Volumen: | 83 |
Número: | 197 |
Paginación: | 52-57 |
País: | Colombia |
Idioma: | Inglés |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Aplicado, descriptivo |
Resumen en español | La eficiencia de un plan de demostración Weibull está completamente determinada por el tiempo total de experimentación (Ta) el cual depende del tamaño de muestra desconocido (n) y del parámetro de forma Weibull (β). De esa forma, una vez que β fue seleccionada, Ta depende sólo de n. Desafortunadamente, debido a que n es estimada a través del método binomial paramétrico, entonces si el nivel de confianza C es mayor de 0.63, n y como consecuencia Ta, son sobre-estimados (para C<0.63, estos son subestimados). Por otro lado, en este artículo, debido a que la intersección entre n y β, para la cual Ta es única, se encontró con n dependiendo sólo de R(t), entonces la estimación de Ta es óptima. Por otro lado, dado que una vez que β fue seleccionada, η está completamente determinada, entonces β y η fueron utilizadas para incorporar los tiempos de falla esperados del nivel operacional en un análisis de prueba de vida acelerada (ALT). Aplicaciones numéricas son dadas |
Resumen en inglés | The efficiency of a Weibull demonstration test plan is completely determined by the total experimental time (Ta), which depends on the unknown sample size (n) and on the Weibull shape parameter (β). Thus, once β was selected, Ta depends only on n. Unfortunately, because n was estimated by the parametrical binomial approach, then if the confidence level C was higher than 0.63, n, and as consequence Ta, was overestimated, (For C<0.63, they were underestimated). On the other hand, in this paper, because the intersection between n and β, for which Ta was unique, was found with n depending only on R(t), then the estimation of Ta was optimal. On the other hand, since once β was selected, η was completely determined, then β and η were used to incorporate the expected failure times of the operational level in an accelerated life test analysis (ALT). Numerical applications are given |
Disciplinas: | Ingeniería |
Palabras clave: | Ingeniería industrial, Demostración Weibull, Desigualdad de Lipson, Pruebas de vida acelerada |
Keyword: | Engineering, Industrial engineering, Weibull demonstration, Lipson inequality, Accelerated life test |
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