Robust sample size for weibull demonstration test plan



Título del documento: Robust sample size for weibull demonstration test plan
Revista: Dyna (Medellín)
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000394986
ISSN: 0012-7353
Autors: 1
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Institucions: 1Universidad Autónoma de Ciudad Juárez, Instituto de Ingeniería y Tecnología, Ciudad Juárez, Chihuahua. México
Any:
Període: Jun
Volum: 83
Número: 197
Paginació: 52-57
País: Colombia
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Aplicado, descriptivo
Resumen en español La eficiencia de un plan de demostración Weibull está completamente determinada por el tiempo total de experimentación (Ta) el cual depende del tamaño de muestra desconocido (n) y del parámetro de forma Weibull (β). De esa forma, una vez que β fue seleccionada, Ta depende sólo de n. Desafortunadamente, debido a que n es estimada a través del método binomial paramétrico, entonces si el nivel de confianza C es mayor de 0.63, n y como consecuencia Ta, son sobre-estimados (para C<0.63, estos son subestimados). Por otro lado, en este artículo, debido a que la intersección entre n y β, para la cual Ta es única, se encontró con n dependiendo sólo de R(t), entonces la estimación de Ta es óptima. Por otro lado, dado que una vez que β fue seleccionada, η está completamente determinada, entonces β y η fueron utilizadas para incorporar los tiempos de falla esperados del nivel operacional en un análisis de prueba de vida acelerada (ALT). Aplicaciones numéricas son dadas
Resumen en inglés The efficiency of a Weibull demonstration test plan is completely determined by the total experimental time (Ta), which depends on the unknown sample size (n) and on the Weibull shape parameter (β). Thus, once β was selected, Ta depends only on n. Unfortunately, because n was estimated by the parametrical binomial approach, then if the confidence level C was higher than 0.63, n, and as consequence Ta, was overestimated, (For C<0.63, they were underestimated). On the other hand, in this paper, because the intersection between n and β, for which Ta was unique, was found with n depending only on R(t), then the estimation of Ta was optimal. On the other hand, since once β was selected, η was completely determined, then β and η were used to incorporate the expected failure times of the operational level in an accelerated life test analysis (ALT). Numerical applications are given
Disciplines Ingeniería
Paraules clau: Ingeniería industrial,
Demostración Weibull,
Desigualdad de Lipson,
Pruebas de vida acelerada
Keyword: Engineering,
Industrial engineering,
Weibull demonstration,
Lipson inequality,
Accelerated life test
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