Optical characterization of Pb1-xSnxTe layers by infrared transmission
Título del documento: Optical characterization of Pb1-xSnxTe layers by infrared transmission
Revue: Brazilian journal of physics
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000134767
ISSN: 0103-9733
Autores: 1
Instituciones: 1Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais, Sao Jose dos Campos, Sao Paulo. Brasil
2Instituto Tecnico da Aeronautica, Sao Jose dos Campos, Sao Paulo. Brasil
3Australian National University, Canberra, Australian Capital Territory. Australia
Año:
Periodo: Dic
Volumen: 27A
Número: 4
Paginación: 252-255
País: Brasil
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplinas: Física y astronomía
Palabras clave: Física de materia condensada,
Optica,
Semiconductores,
Caracterización óptica,
Capas,
Trasmisión,
IR
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
Optics,
Semiconductors,
Optical characterization,
Layers,
Transmission,
IR
Solicitud del documento
Nota: El envío del documento tiene costo.









Los documentos originales pueden ser consultados en el Departamento de Información y Servicios Documentales, ubicado en el Anexo de la Dirección General de Bibliotecas (DGB), circuito de la Investigación Científica a un costado del Auditorio Nabor Carrillo, zona de Institutos entre Física y Astronomía. Ciudad Universitaria UNAM. Ver mapa
Mayores informes: Departamento de Información y Servicios Documentales, Tels. (5255) 5622-3960, 5622-3964, e-mail: sinfo@dgb.unam.mx, Horario: Lunes a viernes (8 a 16 hrs.)