Optical characterization of Pb1-xSnxTe layers by infrared transmission
Título del documento: Optical characterization of Pb1-xSnxTe layers by infrared transmission
Revista: Brazilian journal of physics
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000134767
ISSN: 0103-9733
Autors: 1
Institucions: 1Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais, Sao Jose dos Campos, Sao Paulo. Brasil
2Instituto Tecnico da Aeronautica, Sao Jose dos Campos, Sao Paulo. Brasil
3Australian National University, Canberra, Australian Capital Territory. Australia
Any:
Període: Dic
Volum: 27A
Número: 4
Paginació: 252-255
País: Brasil
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplines Física y astronomía
Paraules clau: Física de materia condensada,
Optica,
Semiconductores,
Caracterización óptica,
Capas,
Trasmisión,
IR
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
Optics,
Semiconductors,
Optical characterization,
Layers,
Transmission,
IR
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