Low angle X-ray reflection studies of InGaAs/InP multiple quantum wells
Título del documento: Low angle X-ray reflection studies of InGaAs/InP multiple quantum wells
Revue: Brazilian journal of physics
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000134836
ISSN: 0103-9733
Autores: 1
Instituciones: 1Pontificia Universidade Catolica do Rio de Janeiro, Departamento de Ciencia dos Materiais e Metalurgia, Rio de Janeiro. Brasil
2Pontificia Universidade Catolica do Rio de Janeiro, Centro de Estudos em Telecomunicacoes, Rio de Janeiro. Brasil
Año:
Periodo: Dic
Volumen: 27A
Número: 4
Paginación: 316-318
País: Brasil
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplinas: Física y astronomía
Palabras clave: Física de materia condensada,
Optica,
Semiconductores,
Pozos cuánticos,
Rayos X,
Reflectometría,
Películas delgadas
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
Optics,
Semiconductors,
Quantum wells,
X-rays,
Reflectometry,
Thin films
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