| Revista: | Scientific American México |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000202956 |
| Autores: | Voldman, Steven H |
| Año: | 2002 |
| Volumen: | 1 |
| Número: | 6 |
| Paginación: | 64-71 |
| País: | México |
| Idioma: | Español |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Divulgación |
| Disciplinas: | Ingeniería |
| Palabras clave: | Ingeniería electrónica, Microelectrónica, Descargas electrostáticas, Microcircuitos, Protección electrostática |
| Keyword: | Engineering, Electronic engineering, Microelectronics, Electrostatic discharge, Microcircuits, Electrostatic protection |
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