| Journal: | Revista mexicana de física |
| Database: | PERIÓDICA |
| System number: | 000461138 |
| ISSN: | 0035-001X |
| Authors: | Palavicini, C1 Jaouen, Y1 Gallion, P1 Campuzano, G2 |
| Institutions: | 1Ecole Nationale Superieure des Telecommunications, Departement Communications et Electronique, París. Francia 2Instituto Tecnológico y de Estudios Superiores de Monterrey, Centro de Electrónica y Telecomunicaciones, Monterrey, Nuevo León. México |
| Year: | 2006 |
| Season: | Ago |
| Volumen: | 52 |
| Number: | 4 |
| Pages: | 379-386 |
| Country: | México |
| Language: | Español |
| Document type: | Artículo |
| Approach: | Analítico, teórico |
| Spanish abstract | La reflectometría óptica de baja coherencia ha sido aplicada a la caracterización de nuevos componentes ópticos utilizados en sistemas de telecomunicaciones emergentes. Esta técnica no destructiva y versátil, permite la detección, localización y cuantificación de discontinuidades existentes en los componentes fotónicos, obteniendo así una informacion precisa y directa sobre las propiedades ópticas de dichos componentes |
| English abstract | Optical low-coherence reflectometry has been succesfully applied to the characterization of photonic devices. This non-destructive and versatile technique permits the detection, localization and quantification of scattering discontinuities of optoelectronic devices, yielding an accurate and direct information of the optical properties of the device |
| Disciplines: | Física y astronomía |
| Keyword: | Física, Reflectometría de baja coherencia, Caracterización de dispositivos fotonicos |
| Keyword: | Physics, Optical low-coherence reflectometry, Photonic device characterization |
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