| Revista: | Revista mexicana de física |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000461138 |
| ISSN: | 0035-001X |
| Autores: | Palavicini, C1 Jaouen, Y1 Gallion, P1 Campuzano, G2 |
| Instituciones: | 1Ecole Nationale Superieure des Telecommunications, Departement Communications et Electronique, París. Francia 2Instituto Tecnológico y de Estudios Superiores de Monterrey, Centro de Electrónica y Telecomunicaciones, Monterrey, Nuevo León. México |
| Año: | 2006 |
| Periodo: | Ago |
| Volumen: | 52 |
| Número: | 4 |
| Paginación: | 379-386 |
| País: | México |
| Idioma: | Español |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Analítico, teórico |
| Resumen en español | La reflectometría óptica de baja coherencia ha sido aplicada a la caracterización de nuevos componentes ópticos utilizados en sistemas de telecomunicaciones emergentes. Esta técnica no destructiva y versátil, permite la detección, localización y cuantificación de discontinuidades existentes en los componentes fotónicos, obteniendo así una informacion precisa y directa sobre las propiedades ópticas de dichos componentes |
| Resumen en inglés | Optical low-coherence reflectometry has been succesfully applied to the characterization of photonic devices. This non-destructive and versatile technique permits the detection, localization and quantification of scattering discontinuities of optoelectronic devices, yielding an accurate and direct information of the optical properties of the device |
| Disciplinas: | Física y astronomía |
| Palabras clave: | Física, Reflectometría de baja coherencia, Caracterización de dispositivos fotonicos |
| Keyword: | Physics, Optical low-coherence reflectometry, Photonic device characterization |
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