Caracterización óptica de una película delgada semiconductora
Document title: Caracterización óptica de una película delgada semiconductora
Journal: Revista boliviana de física
Database: PERIÓDICA
System number: 000171095
ISSN: 1562-3823
Authors: 1
Institutions: 1Universidad Mayor de San Andrés, Facultad de Ciencias Puras y Naturales, La Paz. Bolivia
Year:
Season: Sep
Number: 6
Pages: 79-84
Country: Bolivia
Language: Español
Document type: Artículo
Approach: Analítico
Disciplines: Física y astronomía
Keyword: Física,
Física de materia condensada,
Optica,
Películas delgadas,
Caracterización óptica,
Semiconductores,
Indice de refracción,
Silicio
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
Optics,
Physics,
Thin films,
Optical characterization,
Semiconductors,
Refractive index,
Silicon
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