Caracterización óptica de una película delgada semiconductora
Título del documento: Caracterización óptica de una película delgada semiconductora
Revista: Revista boliviana de física
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000171095
ISSN: 1562-3823
Autores: 1
Instituciones: 1Universidad Mayor de San Andrés, Facultad de Ciencias Puras y Naturales, La Paz. Bolivia
Año:
Periodo: Sep
Número: 6
Paginación: 79-84
País: Bolivia
Idioma: Español
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplinas: Física y astronomía
Palabras clave: Física,
Física de materia condensada,
Optica,
Películas delgadas,
Caracterización óptica,
Semiconductores,
Indice de refracción,
Silicio
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
Optics,
Physics,
Thin films,
Optical characterization,
Semiconductors,
Refractive index,
Silicon
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