Control de calidad en el proceso ecmos-1
Document title: Control de calidad en el proceso ecmos-1
Journal: Memoria Electro - Reunión Académica de Ingeniería Electrónica
Database: PERIÓDICA
System number: 000115588
ISSN: 0185-4607
Authors: 1
Institutions: 1Instituto Nacional de Astrofísica, Optica y Electrónica, Dep Microelectronica, Tonantzintla, Puebla. México
Year:
Season: Oct
Number: 13
Pages: 807-820
Country: México
Document type: Artículo
Approach: Teórico
Disciplines: Ingeniería,
Matemáticas
Keyword: Ingeniería electrónica,
Matemáticas aplicadas,
Circuitos integrados,
Fabricación,
CMOS,
Control de calidad,
Estadística
Keyword: Engineering,
Mathematics,
Electronic engineering,
Applied mathematics,
Integrated circuits,
Manufacture,
CMOS,
Quality control,
Statistics
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