Control de calidad en el proceso ecmos-1
Título del documento: Control de calidad en el proceso ecmos-1
Revista: Memoria Electro - Reunión Académica de Ingeniería Electrónica
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000115588
ISSN: 0185-4607
Autors: 1
Institucions: 1Instituto Nacional de Astrofísica, Optica y Electrónica, Dep Microelectronica, Tonantzintla, Puebla. México
Any:
Període: Oct
Número: 13
Paginació: 807-820
País: México
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Teórico
Disciplines Ingeniería,
Matemáticas
Paraules clau: Ingeniería electrónica,
Matemáticas aplicadas,
Circuitos integrados,
Fabricación,
CMOS,
Control de calidad,
Estadística
Keyword: Engineering,
Mathematics,
Electronic engineering,
Applied mathematics,
Integrated circuits,
Manufacture,
CMOS,
Quality control,
Statistics
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