Tecnicas seudoexhaustivas para probar circuitos logicos



Título del documento: Tecnicas seudoexhaustivas para probar circuitos logicos
Revista: Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000086127
ISSN: 0258-5944
Autores: 1
Instituciones: 1Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría", Fac Ingenieria Industrial, Dep Matematica General, La Habana. Cuba
Año:
Volumen: 8
Número: 2
Paginación: 144-148
País: Cuba
Tipo de documento: Reporte técnico
Enfoque: Descriptivo
Disciplinas: Ingeniería,
Ciencia y tecnología
Palabras clave: Ingeniería eléctrica,
Tecnología,
Pruebas,
Circuitos lógicos,
Técnicas
Keyword: Engineering,
Science and technology,
Electrical engineering,
Technology,
Tests,
Logic circuits,
Techniques
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