Simulacion y evaluacion de pruebas de esfuerzo escalonado
Título del documento: Simulacion y evaluacion de pruebas de esfuerzo escalonado
Revista: Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000100161
ISSN: 0258-5944
Autores: 1
Instituciones: 1Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría", Fac Ingenieria Electrica, Dep Microelectronica, La Habana. Cuba
Año:
Volumen: 9
Número: 1
Paginación: 57-64
País: Cuba
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Teórico, experimental
Disciplinas: Ingeniería,
Ciencias de la computación
Palabras clave: Ingeniería electrónica,
Esfuerzo escalonado,
Pruebas,
Semiconductores,
Transistores,
Circuitos integrados
Keyword: Engineering,
Computer science,
Electronic engineering,
Step-stress,
Tests,
Semiconductors,
Transistors,
Integrated circuits
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