Revista: | Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000088132 |
ISSN: | 0258-5944 |
Autores: | Trujillo Alvarado, H.S1 |
Instituciones: | 1Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría", Facultad de Electrónica, Cibernética y Comunicaciones, La Habana. Cuba |
Año: | 1984 |
Periodo: | Feb |
Volumen: | 5 |
Número: | 1 |
Paginación: | 53-67 |
País: | Cuba |
Idioma: | Español |
Tipo de documento: | Reporte técnico |
Enfoque: | Aplicado, experimental |
Disciplinas: | Ingeniería, Ciencias de la computación |
Palabras clave: | Ingeniería eléctrica, Ingeniería electrónica, Resistividad, Medición, Métodos, Mapas, Factores de corrección, Computación |
Keyword: | Engineering, Computer science, Electrical engineering, Electronic engineering, Resistivity, Measurement, Methods, Variation maps, Correcting factors, Computing |
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