Mascara para evaluar microprobador automatico de dispositivos semiconductores
Título del documento: Mascara para evaluar microprobador automatico de dispositivos semiconductores
Revista: Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000090206
ISSN: 0258-5944
Autores: 1
Instituciones: 1Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría", Fac Electronica Cibernetica Comunicaciones, Ctr Inv Microelectronica, La Habana. Cuba
Año:
Periodo: Dic
Volumen: 5
Número: 4
Paginación: 459-466
País: Cuba
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Teórico, experimental
Disciplinas: Ingeniería
Palabras clave: Ingeniería electrónica,
Semiconductores,
Microprobadores
Keyword: Engineering,
Electronic engineering,
Semiconductors,
Microtesters
Solicitud del documento
Nota: El envío del documento tiene costo.









Los documentos originales pueden ser consultados en el Departamento de Información y Servicios Documentales, ubicado en el Anexo de la Dirección General de Bibliotecas (DGB), circuito de la Investigación Científica a un costado del Auditorio Nabor Carrillo, zona de Institutos entre Física y Astronomía. Ciudad Universitaria UNAM. Ver mapa
Mayores informes: Departamento de Información y Servicios Documentales, Tels. (5255) 5622-3960, 5622-3964, e-mail: sinfo@dgb.unam.mx, Horario: Lunes a viernes (8 a 16 hrs.)