Revista: | Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000090218 |
ISSN: | 0258-5944 |
Autores: | Martinez Morell, O1 Polanco Risquet, A |
Instituciones: | 1Ctr Inv Metalurgicas, Fac Electrica, Fac Electronica, La Habana. Cuba |
Año: | 1985 |
Periodo: | Feb |
Volumen: | 6 |
Número: | 1 |
Paginación: | 11-17 |
País: | Cuba |
Idioma: | Español |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Analítico |
Disciplinas: | Ingeniería |
Palabras clave: | Ingeniería electrónica, Defectos, Oxidación, Crecimiento termico, Tricloroetileno, Fabricación, Microelectrónica |
Keyword: | Engineering, Electronic engineering, Defects, Oxidation, Thermal growth, Trichlorothylene, Manufacture, Microelectronics |
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