Fallos dependientes en los circuitos integrados mediante procesos de ramificacion
Document title: Fallos dependientes en los circuitos integrados mediante procesos de ramificacion
Journal: Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones
Database: PERIÓDICA
System number: 000088124
ISSN: 0258-5944
Authors: 1
Institutions: 1Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría", Facultad de Electrónica, Cibernética y Comunicaciones, La Habana. Cuba
Year:
Season: Ene
Volumen: 3
Number: 3
Pages: 295-315
Country: Cuba
Document type: Reporte técnico
Approach: Descriptivo, analítico
Disciplines: Ingeniería,
Ciencias de la computación
Keyword: Ingeniería electrónica,
Fallas,
Circuitos integrados,
MOS,
Proceso de ramificación,
Función generatriz,
Cálculo
Keyword: Engineering,
Computer science,
Electronic engineering,
Failures,
Integrated circuits,
Mos,
Ramification processes,
Functions generator,
Calculation
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