Diagnóstico de los circuitos integrados digitales y métodos para probar los circuitos de alta y muy alta escala de integración
Título del documento: Diagnóstico de los circuitos integrados digitales y métodos para probar los circuitos de alta y muy alta escala de integración
Revista: Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000204296
ISSN: 0258-5944
Autores: 1
Instituciones: 1Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría", Facultad de Ingeniería Eléctrica, La Habana. Cuba
Año:
Volumen: 23
Número: 3
Paginación: 55-58
País: Cuba
Idioma: Español
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Descriptivo
Disciplinas: Ingeniería
Palabras clave: Ingeniería eléctrica,
Ingeniería electrónica,
Circuitos digitales,
Circuitos LSI,
Circuitos VLSI,
Pruebas funcionales,
Pruebas paramétricas
Keyword: Engineering,
Electrical engineering,
Electronic engineering,
Digital circuits,
LSI circuits,
VLSI circuits,
Functional tests,
Parametric tests
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