Diagnóstico de los circuitos integrados digitales y métodos para probar los circuitos de alta y muy alta escala de integración
Document title: Diagnóstico de los circuitos integrados digitales y métodos para probar los circuitos de alta y muy alta escala de integración
Journal: Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones
Database: PERIÓDICA
System number: 000204296
ISSN: 0258-5944
Authors: 1
Institutions: 1Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría", Facultad de Ingeniería Eléctrica, La Habana. Cuba
Year:
Volumen: 23
Number: 3
Pages: 55-58
Country: Cuba
Language: Español
Document type: Artículo
Approach: Descriptivo
Disciplines: Ingeniería
Keyword: Ingeniería eléctrica,
Ingeniería electrónica,
Circuitos digitales,
Circuitos LSI,
Circuitos VLSI,
Pruebas funcionales,
Pruebas paramétricas
Keyword: Engineering,
Electrical engineering,
Electronic engineering,
Digital circuits,
LSI circuits,
VLSI circuits,
Functional tests,
Parametric tests
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