Revista: | Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000204296 |
ISSN: | 0258-5944 |
Autors: | Díaz Martínez, René1 |
Institucions: | 1Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría", Facultad de Ingeniería Eléctrica, La Habana. Cuba |
Any: | 2002 |
Volum: | 23 |
Número: | 3 |
Paginació: | 55-58 |
País: | Cuba |
Idioma: | Español |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Descriptivo |
Disciplines | Ingeniería |
Paraules clau: | Ingeniería eléctrica, Ingeniería electrónica, Circuitos digitales, Circuitos LSI, Circuitos VLSI, Pruebas funcionales, Pruebas paramétricas |
Keyword: | Engineering, Electrical engineering, Electronic engineering, Digital circuits, LSI circuits, VLSI circuits, Functional tests, Parametric tests |
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