Análisis de la detección de fallos en memorias RAM usando pruebas funcionales
Document title: Análisis de la detección de fallos en memorias RAM usando pruebas funcionales
Journal: Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones
Database: PERIÓDICA
System number: 000217169
ISSN: 0258-5944
Authors: 1
Institutions: 1Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría", Facultad de Ingeniería Eléctrica, La Habana. Cuba
Year:
Volumen: 24
Number: 1
Pages: 53-58
Country: Cuba
Language: Español
Document type: Artículo
Approach: Aplicado
Disciplines: Ciencias de la computación,
Ingeniería
Keyword: Ingeniería electrónica,
Tarjetas,
Pruebas funcionales,
Códigos detectores,
Acoplamiento-V
Keyword: Computer science,
Engineering,
Electronic engineering,
Board,
Functional test,
Detection codes,
V-coupling
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