Analisis de fallos en circuitos integrados mos elaborados en el cime
Título del documento: Analisis de fallos en circuitos integrados mos elaborados en el cime
Revista: Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000088136
ISSN: 0258-5944
Autores: 1
Instituciones: 1Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría", Facultad de Electrónica, Cibernética y Comunicaciones, La Habana. Cuba
Año:
Periodo: Feb
Volumen: 5
Número: 1
Paginación: 117-124
País: Cuba
Tipo de documento: Reporte técnico
Enfoque: Analítico, experimental
Disciplinas: Ingeniería,
Física y astronomía
Palabras clave: Ingeniería electrónica,
Optica,
Circuitos integrados,
MOS,
Fallas,
Microscopía óptica,
Cortocircuito,
Metalización
Keyword: Engineering,
Physics and astronomy,
Electronic engineering,
Optics,
Integrated circuits,
Mos,
Failures,
Optic microscopy,
Short circuit,
Metallization
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