Introducción a la gestión metrológica



Document title: Introducción a la gestión metrológica
Journal: Informador técnico
Database: PERIÓDICA
System number: 000344687
ISSN: 0122-056X
Authors: 1
Institutions: 1Universidad Agraria de Colombia, Bogotá. Colombia
Year:
Season: Ene-Dic
Number: 75
Pages: 47-52
Country: Colombia
Language: Español
Document type: Artículo
Approach: Aplicado, descriptivo
Spanish abstract El nuevo milenio presentó retos y paradigmas para la metrología, escenarios como los de telecomunicaciones, informática y los computadores han demostrado que la velocidad de desarrollo tecnológico del hardware superó actualmente al software, las máquinas de cómputo modernas han ampliado sus velocidades y capacidades de almacenamiento, es común hablar de unidades de almacenamiento de Terabytes. El campo de la metrología científica está ad portas del descubrimiento del patrón electrónico para la masa, utilizando el número de Avogadro (6,025 ⋅10-24) o la balanza de watt, ampliará la exactitud de las mediciones. Próximamente se verá un lunar en el rostro de una jovencita y esto podrá ser un ipod, dado el alto desarrollo de la nanoelectrónica. El reciente cambio o actualización del Vocabulario Internacional de Términos básicos y generales en Metrología - VIM, hoy conocido como la Guía ISO/ IEC 99:2008 ha marcado una nueva tendencia de la metrología, que debe ser comprendida por toda la comunidad científica, industrial y legal en el mundo, cada vez más globalizado
English abstract The new millennium brought challenges and paradigms for metrology. Scenarios like telecommunications, information technology, and computers have demonstrated that the speed of technological development hardware currently exceeded software. Modern computer machines have broadened their velocity and storage capacity, it is now common to speak of storage in terabytes. The field of scientific metrology is close to discovering the electronic mass standard based on Avogadro´s number (6,025⋅10-24) or watt balance, which will broaden measurement accuracy. Soon, when we see a young woman with a facial mole, it may be an ipod, given the high degree of nanoelectronic development. Recent review of International Basic and General terms in metrology - VIM, now ISO Guide 99:2008, shows a new metrology tendency, which must be understood by all the scientific, industrial, and legal community in an ever-more globalized world
Disciplines: Ingeniería
Keyword: Ingeniería industrial,
Metrología,
Control de calidad,
Gestión
Keyword: Engineering,
Industrial engineering,
Metrology,
Quality control,
Management
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