Contained erosion-voiding in thin film crystallite interconnet metals
Document title: Contained erosion-voiding in thin film crystallite interconnet metals
Journal: Científica (México, D.F.)
Database: PERIÓDICA
System number: 000232994
ISSN: 1665-0654
Authors: 1
2
Institutions: 1Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Facultad de Ciencias Físico Matemáticas, Puebla. México
2Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Instituto de Ciencias, Puebla. México
Year:
Season: Ene-Mar
Volumen: 8
Number: 1
Pages: 15-21
Country: México
Language: Inglés
Document type: Artículo
Approach: Aplicado
Disciplines: Ingeniería
Keyword: Ingeniería de materiales,
Interconexión,
Electromigración,
Vacío,
Conducción
Keyword: Engineering,
Materials engineering,
Interconnections,
Electromigration,
Voids,
Conduction
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