Revista: | Revista mexicana de física |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000024426 |
ISSN: | 0035-001X |
Autores: | Cota Ls1 Machorro R Regalado Le Shu Wang Siqueiros Jm |
Instituciones: | 1Universidad Nacional Autónoma de México, Instituto de Física, Ensenada, Baja California. México |
Año: | 1996 |
Periodo: | Ago |
Volumen: | 42 |
Número: | 4 |
Paginación: | 639-648 |
País: | México |
Idioma: | Inglés |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Analítico |
Disciplinas: | Física y astronomía |
Palabras clave: | Física de materia condensada, Optica, Meb, Películas, Capas protectoras, Caracterización óptica, Espectroscopia de electrones |
Keyword: | Physics and astronomy, Condensed matter physics, Optics, Sem, Films, Protection layers, Electron spectroscopy, Optic characterization |
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