Optical and electronic characterization of a zns / mg thin film system
Título del documento: Optical and electronic characterization of a zns / mg thin film system
Revista: Revista mexicana de física
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000024426
ISSN: 0035-001X
Autors: 1
Institucions: 1Universidad Nacional Autónoma de México, Instituto de Física, Ensenada, Baja California. México
Any:
Període: Ago
Volum: 42
Número: 4
Paginació: 639-648
País: México
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplines Física y astronomía
Paraules clau: Física de materia condensada,
Optica,
Meb,
Películas,
Capas protectoras,
Caracterización óptica,
Espectroscopia de electrones
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
Optics,
Sem,
Films,
Protection layers,
Electron spectroscopy,
Optic characterization
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