| Revue: | Universidad y ciencia |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000361312 |
| ISSN: | 0186-2979 |
| Autores: | Medina Peralta, S1 Vargas Villamil, L2 Navarro Alberto, J3 Canul Pech, C1 Peraza Romero, S1 |
| Instituciones: | 1Universidad Autónoma de Yucatán, Mérida, Yucatán. México 2Colegio de Postgraduados, Campus Tabasco, Cárdenas, Tabasco. México 3Universidad Autónoma de Yucatán, Mérida, Yucatán. México |
| Año: | 2010 |
| Periodo: | Dic |
| Volumen: | 26 |
| Número: | 3 |
| Paginación: | 255-263 |
| País: | México |
| Idioma: | Español |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Analítico |
| Resumen en español | En la literatura se han expuesto diferentes enfoques y técnicas para validar modelos en predicción del sistema. Dos de ellas son: métodos gráficos y medidas de desviación que comparan los valores observados con los predichos. En este trabajo se comparan las medidas de desviación Eficiencia de Modelado (MEF), Coeficiente de Determinación del Modelo (CD), y el Coeficiente del Error (C) para validar modelos sin sesgo (SS), con sesgo constante (SC) o proporcional (SP). Las tres medidas indican un buen ajuste de los valores observados con los predichos para un modelo SS, y concuerdan con lo visto en los métodos gráficos. El CD contradice lo observado en los métodos gráficos para un modelo con SC. Las medidas MEF, CD y C contradicen a los métodos gráficos para un modelo con SP. Se recomienda utilizar conjuntamente medidas de desviación y métodos gráficos para validar modelos |
| Resumen en inglés | Diverse approaches and techniques have been documented in the literature for model validation in the prediction of systems. Two techniques involve the comparison of observed and predicted values by 1) graphical methods and 2) deviance measures. In the present study, comparisons of three measures of deviation, Modeling Efficiency (MEF), Coefficient of Model Determination (CD), and Coefficient of Error (C), is performed for models without bias (SS), and with constant (SC) and proportional bias (SP). The three measures indicate a good fit between observed and predicted values for a SS model, in agreement to what is observed using graphical methods. For a SC model, CD contradicts the interpretations given by the graphical methods. MEF, CD and C all contradict what it is seen in the graphical methods for a SP model. According to these results, it is preferable a combination of graphical methods and deviance measures for the purpose of model validation |
| Disciplinas: | Matemáticas |
| Palabras clave: | Matemáticas aplicadas, Modelos, Sesgo, Análisis estadístico, Desviaciones |
| Keyword: | Mathematics, Applied mathematics, Models, Bias, Statistical analysis, Deviations |
| Texte intégral: | Texto completo (Ver HTML) |
