| Revista: | Tepexi boletín científico de la escuela superior tepeji del río |
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| Número de sistema: | 000585905 |
| ISSN: | 2007-7629 |
| Autores: | G. Hernández, Angélica1 Karthik, T. V. K.2 |
| Instituciones: | 1CINVESTAV-IPN, 2Universidad Autónoma del Estado de Hidalgo, |
| Año: | 2018 |
| Volumen: | 5 |
| Número: | 10 |
| País: | México |
| Idioma: | Español |
| Resumen en español | La microscopía de fuerza atómica es una técnica importante en el análisis de la superficie de materiales, nos permite construir una imagen en 3D de la zona de estudio. La técnica es utilizada para estudiar las características morfológicas de objetos de bajas dimensiones (desde decenas de nanómetros hasta algunos cientos de micrómetros). Además, el análisis mediante la microscopía de fuera atómica nos permite obtener información de las propiedades mecánicas y eléctricas de la muestras que se estudian. |
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