Difratometria de raios-x em rochas tufiticas das peninsulas fildes (ilha rei george), e stansbury (ilha nelson), shetland do sul, antartica



Título del documento: Difratometria de raios-x em rochas tufiticas das peninsulas fildes (ilha rei george), e stansbury (ilha nelson), shetland do sul, antartica
Revue: Serie científica - Instituto Antártico Chileno
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000115979
ISSN: 0073-9871
Autores: 1

Instituciones: 1Universidade do Vale do Rio dos Sinos, Dep Geologia, Nucleo Estudos Antarticos, Sao Leopoldo, Rio Grande do Sul. Brasil
Año:
Número: 40
Paginación: 9-19
País: Chile
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Descriptivo, analítico
Disciplinas: Geociencias,
Física y astronomía
Palabras clave: Geología,
Mineralogía, petrología y geoquímica,
Sismología y vulcanología,
Física de materia condensada,
Antártida,
Rocas tufiticas,
Clasificación,
Difractometría,
Rayos X,
Islas Shetland del Sur
Keyword: Earth sciences,
Physics and astronomy,
Geology,
Mineralogy, petrology and geochemistry,
Seismology and volcanology,
Condensed matter physics,
Antarctica,
Tufitic rocks,
Classification,
Diffractometry,
X-rays,
South Shetland islands
Solicitud del documento
Nota: El envío del documento tiene costo.









Los documentos originales pueden ser consultados en el Departamento de Información y Servicios Documentales, ubicado en el Anexo de la Dirección General de Bibliotecas (DGB), circuito de la Investigación Científica a un costado del Auditorio Nabor Carrillo, zona de Institutos entre Física y Astronomía. Ciudad Universitaria UNAM. Ver mapa
Mayores informes: Departamento de Información y Servicios Documentales, Tels. (5255) 5622-3960, 5622-3964, e-mail: sinfo@dgb.unam.mx, Horario: Lunes a viernes (8 a 16 hrs.)