| Revue: | Revista técnica de la Facultad de Ingeniería. Universidad del Zulia |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000316928 |
| ISSN: | 0254-0770 |
| Autores: | El Montoya, Dan1 |
| Instituciones: | 1Universidad Central de Venezuela, Facultad de Ingeniería, Caracas, Distrito Federal. Venezuela |
| Año: | 2008 |
| Periodo: | Abr |
| Volumen: | 31 |
| Número: | 1 |
| Paginación: | 31-40 |
| País: | Venezuela |
| Idioma: | Español |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Experimental |
| Resumen en español | La fluctuación de voltaje es la primera causa del efecto lumínico flicker. Algunas definiciones y estándares han sido propuestos para medir el grado del flicker. Los estándares definen niveles de flicker admisibles en función de la frecuencia. Algoritmos basados sobre la Transformada Rápida de Fourier han sido ampliamente usados en el análisis digital del voltaje flicker. En la última década se ha usado la Transformada de Ondícula en muchos tópicos sobre sistemas eléctricos de potencia. Las aplicaciones han sido enfocadas principalmente en la clasificación de perturbaciones de la calidad de potencia. El análisis ondícula ha sido usado en el análisis de señales en régimen permanente. En este sentido la Transformada de Ondícula ha sido usada en la identificación de armónicos, subarmónicos e interarmónicos. También se ha usado las ondículas de Morlet y la Gaussiana en el cálculo del espectro de la señal flicker. Este cálculo sería crucial en la determinación del índice de severidad del flicker en tiempo corto (Pst) del estándar IEC-61000-4-15. El objetivo de este trabajo es el cálculo del índice de severidad del flicker a corto plazo (Pst) de la norma IEC-61000-4-15 mediante la Transformada de Ondícula Discreta y mediante la Transformada Rápida de Fourier con la finalidad de comparar resultados |
| Resumen en inglés | Voltage fluctuation is the first cause of the flicker light effect. Some definitions and standards have been proposed to measure the grade of the flicker. The standards define admissible flicker levels in function of the frequency. Algorithms based on the Fast Fourier Transform have been used a lot in digital analysis of flicker voltage. In the last decade it has been implemented the wavelet transform in many issues on power electric systems. The applications have been focused on the classification of the disturbances in measurement on power quality. The wavelet analysis has been used on steady state signal analysis. In this way the wavelet transform has been used to identify harmonics, sub harmonics and no-integer harmonics. Also the Morlet and the Gaussian wavelets have been used in the calculation of the flicker signal spectrum. This will be crucial to calculate or Pst of the standard IEC-41000-6-15. The objective of this paper is to calculate short-term flicker evaluation through the Discrete Wavelet Transform and the Fast Fourier Transform in order to compare results |
| Disciplinas: | Ingeniería, Matemáticas |
| Palabras clave: | Ingeniería eléctrica, Matemáticas aplicadas, Flicker, Flickermetro, Ondulas, Voltaje, Electricidad, Calidad |
| Keyword: | Engineering, Mathematics, Electrical engineering, Applied mathematics, Flicker, Flickermeter, Wavelets, Voltage, Electricity, Quality |
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